研發(fā)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
滿足功率器件研發(fā)、工程、應(yīng)用測(cè)試各項(xiàng)需求:
- 器件的靜態(tài)直流參數(shù)(BVDSS/VTH/IDSS/IGSS/RDSON/VSD等)
- 器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)(Ciss/Crss/Coss/Qg/Qgs/Qgd/Trr/Qrr/Tdon/Tr/Tdoff/Tf/Rg等)
- 器件的EAS雪崩擊穿參數(shù)
- 器件的ESD抗靜電能力
- 系統(tǒng)應(yīng)用的溫升/效率/波形
- 系統(tǒng)應(yīng)用的EMI/EMC
可靠性實(shí)驗(yàn)室
根據(jù)客戶要求執(zhí)行JEDEC的各級(jí)標(biāo)準(zhǔn)考核可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目:
- 高溫正偏/反偏HTRB/HTGB
- 吸濕敏感度MSL
- 溫度循環(huán)TCT
- 高溫蒸煮PCT
- 高溫儲(chǔ)存HTST
- 溫濕度儲(chǔ)存THT
- 可焊性試驗(yàn)Solderability
研發(fā)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
滿足功率器件研發(fā)、工程、應(yīng)用測(cè)試各項(xiàng)需求:
- 器件的靜態(tài)直流參數(shù)(BVDSS/VTH/IDSS/IGSS/RDSON/VSD等)
- 器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)(Ciss/Crss/Coss/Qg/Qgs/Qgd/Trr/Qrr/Tdon/Tr/Tdoff/Tf/Rg等)
- 器件的EAS雪崩擊穿參數(shù)
- 器件的ESD抗靜電能力
- 系統(tǒng)應(yīng)用的溫升/效率/波形
- 系統(tǒng)應(yīng)用的EMI/EMC
可靠性實(shí)驗(yàn)室
根據(jù)客戶要求執(zhí)行JEDEC的各級(jí)標(biāo)準(zhǔn)考核可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目:
- 高溫正偏/反偏HTRB/HTGB
- 吸濕敏感度MSL
- 溫度循環(huán)TCT
- 高溫蒸煮PCT
- 高溫儲(chǔ)存HTST
- 溫濕度儲(chǔ)存THT
- 可焊性試驗(yàn)Solderability